Modulverantwortliche:
Prof. Dr. Reinhard Denecke
Dauer:
1
Anzahl Wahlkurse:
0
Credits:
5,0
Startsemester:
WiSe 2023/24
Turnus:
alternierend alle 2 Jahre im Wintersemester
Ziele:
Der Studierende soll Gesetzmäßigkeiten der Festkörperoberflächenstruktur, der Gas-Festkörper-Wechselwirkung und des Dünnschichtwachstums kennen sowie wichtige Techniken der Oberflächenanalyse vergleichen und bewerten können.
Inhalt:
Struktur von Festkörperoberflächen und Grenzflächen. Gasadsorption, Physikalische Grundlagen, Instrumentarien und Anwendungsbeispiele von Methoden der Oberflächenanalyse: Elektronenspektroskopie: Photo- (XPS, UPS) und Augerelektronenspektroskopie (AES), Energieverlustspektroskopie (EELS), Quantitative Lateralverteilungs- und Tiefenprofilanalyse des chemischen Zustands, Analytische Ergabnisse zur Adsorption, Katalyse, Korrosion, Adhäsion, Filmwachstum und Segregation. Elektronenbeugung (LEED,XPD).
Massenspektrometrie: SekundärionenMS (SIMS, SNMS). Rastermikroskopien: STM, AFM, elektrochemische Rastermikroskopie (SECM)
Literaturangabe:
H. Bubert and H. Jenett, Surface and Thin Film Analysis, Wiley-VCH, 3-527-30458-4;
H. Lüth, Surface and Interfaces of Solids, Springer, 3-540-42331-1
Teilnahmevoraussetzungen:
Master of Science Structural Chemistry and Spectroscopy: keine
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